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温度测定系统以及温度测定方法

温度测定系统以及温度测定方法

  • 专利类型:发明专利
  • 有效期:不限
  • 发布日期:2020-03-27
  • 技术成熟度:未知
交易价格: ¥面议
  • 法律状态核实
  • 签署交易协议
  • 代办官方过户
  • 交易成功

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  • 技术(专利)类型 发明专利
  • 申请号/专利号 CN200980158413.X 
  • 技术(专利)名称 温度测定系统以及温度测定方法 
  • 项目单位 富士通株式会社
  • 发明人 笠屿丈夫 宇野和史 武井文雄  
  • 行业类别 物理
  • 技术成熟度 未知
  • 交易价格 ¥面议
  • 联系人 富士通株式会社
  • 发布时间 2017-01-18  
  • 01

    项目简介

    在温度测定系统和温度测定方法中,高精度地测定温度。包括:输出激光的激光光源21;铺设于温度测定区域的光纤24以及检测入射到光纤24内的激光的后方散射光,取得沿光纤24的铺设路径的温度测定区域的温度的测定温度分布,并且修正该测定温度分布,计算修正温度分布的温度测定部27;其中,温度测定部27为使沿铺设路径的光纤24的传递函数与修正温度分布的卷积与测定温度分布之间的平方误差在每次修正时变小,而对该测定温度分布逐次地进行多次修正,并且每当进行各次的修正时将铺设路径的特定点的修正后的温度替换成该特定点的推断温度。
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