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一种测量短碳纳米管直径和长度的光散射装置及方法

一种测量短碳纳米管直径和长度的光散射装置及方法

  • 专利类型:发明专利
  • 有效期:不限
  • 发布日期:2020-03-27
  • 技术成熟度:未知
交易价格: ¥面议
  • 法律状态核实
  • 签署交易协议
  • 代办官方过户
  • 交易成功

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  • 技术(专利)类型 发明专利
  • 申请号/专利号 CN201110342462.8 
  • 技术(专利)名称 一种测量短碳纳米管直径和长度的光散射装置及方法 
  • 项目单位 上海理工大学
  • 发明人 杨晖 郑刚 戴曙光  
  • 行业类别 物理
  • 技术成熟度 未知
  • 交易价格 ¥面议
  • 联系人 上海理工大学
  • 发布时间 2017-01-18  
  • 01

    项目简介

    本发明涉及一种测量短碳纳米管直径和长度的光散射装置及方法,氦氖激光器发射的光,通过格林-泰勒棱镜变成垂直方向的线偏振激光;入射线偏振激光经平面镜反射,经透镜聚焦后照射在样品池内的颗粒样品上,被激光束照射的样品颗粒产生的90度方向的散射光依次进入两个正对的小孔;渥拉斯顿棱镜将散射光分解为垂直方向偏振散射光和水平方向偏振散射光;两个光电倍增管分别对两个方向的偏振散射光进行检测,将测得的光信号转换成TTL脉冲电压信号送入数学相关器得到测量直径及长度,相对于目前最普遍的显微镜测量法,是一种无接触式的测量方法,且测量速度快,成本低,操作要求低。相对于拉曼光谱检测法,可同时测量直径及长度,且适用于多壁碳纳米管的测量。
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