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半导体元件及其制造方法

半导体元件及其制造方法

  • 专利类型:发明专利
  • 有效期:不限
  • 发布日期:2020-03-27
  • 技术成熟度:未知
交易价格: ¥面议
  • 法律状态核实
  • 签署交易协议
  • 代办官方过户
  • 交易成功

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  • 技术(专利)类型 发明专利
  • 申请号/专利号 CN201180051610.9 
  • 技术(专利)名称 半导体元件及其制造方法 
  • 项目单位 松下电器产业株式会社
  • 发明人 内田正雄 田中康太郎  
  • 行业类别 电学
  • 技术成熟度 未知
  • 交易价格 ¥面议
  • 联系人 松下电器产业株式会社
  • 发布时间 2017-01-18  
  • 01

    项目简介

    本发明提供一种半导体元件及其制造方法。从基板101的主面的法线方向看,半导体元件100包括单位单元区域100ul及位于单位单元区域与半导体元件的端部之间的末端区域100f,末端区域100f在第1碳化硅半导体层102具有配置为与漂移区域102d相接的第2导电型的环区域103f,环区域包括:与第1碳化硅半导体层的表面相接的高浓度环区域103af、及以比高浓度环区域低的浓度包含第2导电型的杂质且在底面与第1碳化硅半导体层相接的低浓度环区域103bf,高浓度环区域103af的侧面与漂移区域102d相接,从半导体基板主面的法线方向看,高浓度环区域与低浓度环区域具有相同的轮廓。
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  • 02

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