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一种AlGaN基双色日盲紫外探测器及制作方法

一种AlGaN基双色日盲紫外探测器及制作方法

  • 专利类型:发明专利
  • 有效期:不限
  • 发布日期:2021-07-15
  • 技术成熟度:详情咨询
交易价格: ¥面议
  • 法律状态核实
  • 签署交易协议
  • 代办官方过户
  • 交易成功

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  • 技术(专利)类型 发明专利
  • 申请号/专利号 CN201310729555.5 
  • 技术(专利)名称 一种AlGaN基双色日盲紫外探测器及制作方法 
  • 项目单位 中国科学院半导体研究所
  • 发明人 杨敏;种明;赵德刚;王晓勇;苏艳梅;孙捷;孙秀艳 
  • 行业类别 电学
  • 技术成熟度 详情咨询
  • 交易价格 ¥面议
  • 联系人 李志文
  • 发布时间 2021-07-15  
  • 01

    项目简介

    本发明公开了一种AlGaN基双色日盲紫外探测器及制作方法。该探测器包括:衬底;缓冲层;n‑i‑p‑i‑n单元,其包括缓冲层上依次生长的下n型掺杂层、下i型有源层、p型掺杂层、上i型有源层和上n型掺杂层;上台面,其是通过刻蚀上n型掺杂层、上i型有源层、p型掺杂层两侧形成的台面;下台面,其是通过刻蚀上台面下方两侧的p型掺杂层形成;n型欧姆接触金属层,其生长在上n型掺杂层表面,以及下台面一侧的下n型掺杂层上表面;p型欧姆接触金属层,其生长在上台面一侧的p型掺杂层上表面;加厚金属层,其生长在n型欧姆接触金属层和p型欧姆接触金属层上表面,其尺寸大于其下方的欧姆接触金属层的尺寸;二氧化硅层。
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  • 02

    说明书


    1.一种AlGaN基双色日盲紫外探测器的制作方法,包括以下步骤:步骤1:在衬底上依次生长缓冲层、下n型掺杂层、下i型有源层、p型掺杂层、上i型有源层和上n型掺杂层,得到基片,该上n型掺杂层、上i型有源层、p型掺杂层、下i型有源层和下n型掺杂层构成n-i-p-i-n单元;步骤2:在所得到的基片表面边缘向下进行刻蚀,刻蚀深度到达p型掺杂层内,形成上台面;步骤3:对所形成的上台面下方两侧的p型掺杂层向下进行刻蚀,刻蚀深度到达下n型掺杂层内,形成下台面;步骤4:在上台面、下台面表面以及侧壁沉积二氧化硅层;步骤5:采用刻蚀的方法去除上n型掺杂层、下n型掺杂层表面的部分二氧化硅层并制作n型欧姆接触金属层;步骤6:采用刻蚀的方法去除p型掺杂层表面的部分二氧化硅层并制作p型欧姆接触金属层;步骤7:在n型欧姆接触金属层和p型欧姆接触金属层的表面制作加厚金属层,完成器件制作。
    2.根据权利要求1所述的AlGaN基双色日盲紫外探测器的制作方法,其中所述的衬底为双面抛光的蓝宝石材料。
    3.根据权利要求1所述的AlGaN基双色日盲紫外探测器的制作方法,其中所述的上n型掺杂层和下n型掺杂层都为重型掺杂AlGaN材料,其掺杂浓度高于或等于1×1018cm-3
    4.根据权利要求1所述的AlGaN基双色日盲紫外探测器的制作方法,其中所述的上i型有源层和下i型有源层都为非故意掺杂AlGaN材料,其掺杂浓度低于1×1017cm-3
    5.根据权利要求1所述的AlGaN基双色日盲紫外探测器的制作方法,其中所述的p型掺杂层为p型掺杂AlGaN材料,其掺杂浓度高于或等于1×1017cm-3
    6.根据权利要求1所述的AlGaN基双色日盲紫外探测器的制作方法,其中所述的上台面、下台面的形状为圆形或方形。
    7.根据权利要求1所述的AlGaN基双色日盲紫外探测器的制作方法,其中所述的二氧化硅层的厚度为300-500纳米。
    8.根据权利要求1所述的AlGaN基双色日盲紫外探测器的制作方法,其中所述的n型欧姆接触金属层为钛铂金、钛金、镍铂金、镍金或钛铝镍金合金材料,或者为钛铝钛金多层金属材料;所述的p型欧姆接触金属层为镍金、钛金或钯金合金材料;所述的加厚金属层为镍金、钛金、钛铝镍金、镍镉金合金材料或其组合,或者为钛铝钛金多层金属。
    9.根据权利要求4所述的AlGaN基双色日盲紫外探测器的制作方法,其中所述的上i型有源层和下i型有源层的Al组分根据所需的截止波长进行调整。
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