1.一种AlGaN基双色日盲紫外探测器的制作方法,包括以下步骤:步骤1:在衬底上依次生长缓冲层、下n型掺杂层、下i型有源层、p型掺杂层、上i型有源层和上n型掺杂层,得到基片,该上n型掺杂层、上i型有源层、p型掺杂层、下i型有源层和下n型掺杂层构成n-i-p-i-n单元;步骤2:在所得到的基片表面边缘向下进行刻蚀,刻蚀深度到达p型掺杂层内,形成上台面;步骤3:对所形成的上台面下方两侧的p型掺杂层向下进行刻蚀,刻蚀深度到达下n型掺杂层内,形成下台面;步骤4:在上台面、下台面表面以及侧壁沉积二氧化硅层;步骤5:采用刻蚀的方法去除上n型掺杂层、下n型掺杂层表面的部分二氧化硅层并制作n型欧姆接触金属层;步骤6:采用刻蚀的方法去除p型掺杂层表面的部分二氧化硅层并制作p型欧姆接触金属层;步骤7:在n型欧姆接触金属层和p型欧姆接触金属层的表面制作加厚金属层,完成器件制作。
2.根据权利要求1所述的AlGaN基双色日盲紫外探测器的制作方法,其中所述的衬底为双面抛光的蓝宝石材料。
3.根据权利要求1所述的AlGaN基双色日盲紫外探测器的制作方法,其中所述的上n型掺杂层和下n型掺杂层都为重型掺杂AlGaN材料,其掺杂浓度高于或等于1×1018cm-3。
4.根据权利要求1所述的AlGaN基双色日盲紫外探测器的制作方法,其中所述的上i型有源层和下i型有源层都为非故意掺杂AlGaN材料,其掺杂浓度低于1×1017cm-3。
5.根据权利要求1所述的AlGaN基双色日盲紫外探测器的制作方法,其中所述的p型掺杂层为p型掺杂AlGaN材料,其掺杂浓度高于或等于1×1017cm-3。
6.根据权利要求1所述的AlGaN基双色日盲紫外探测器的制作方法,其中所述的上台面、下台面的形状为圆形或方形。
7.根据权利要求1所述的AlGaN基双色日盲紫外探测器的制作方法,其中所述的二氧化硅层的厚度为300-500纳米。
8.根据权利要求1所述的AlGaN基双色日盲紫外探测器的制作方法,其中所述的n型欧姆接触金属层为钛铂金、钛金、镍铂金、镍金或钛铝镍金合金材料,或者为钛铝钛金多层金属材料;所述的p型欧姆接触金属层为镍金、钛金或钯金合金材料;所述的加厚金属层为镍金、钛金、钛铝镍金、镍镉金合金材料或其组合,或者为钛铝钛金多层金属。
9.根据权利要求4所述的AlGaN基双色日盲紫外探测器的制作方法,其中所述的上i型有源层和下i型有源层的Al组分根据所需的截止波长进行调整。
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